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D8 ADVANCE X射线衍射仪
发布机构:绍兴市特种设备检测院 发布时间: 打印本页
一、设备简介
该设备能够精确地对粉末、薄膜等多晶样品进行物相定性定量分析、结晶度分析、晶胞参数计算、固溶体分析、晶粒大小分析、小角散射分析、薄膜掠射、薄膜反射率、外延薄膜衍射分析，织构与应力分析，对于粉末样品具备元素含量分析功能。
二、产品特点
全谱范围内所有峰的角度偏差不超过±0.01度；大面积Si阵列实时光子只读探测器；入射三光路系统可自动切换；激光与CCD视频双重定位。
三、主要参数
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项目 |
技术参数 |
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谱峰角度偏差 |
全谱范围谱峰角度偏差不超过±0.01度 |
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二维阵列探测器探测器 |
有效探测器面积不小于：77.2mm×38.6mm，子探测器个数大于1030×514 = 529420，单个探测器的像素不大于75µm×75µm |
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能量分辨率 |
能量分辨率优于1600eV |
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光路系统 |
三光路系统，粉末衍射聚焦光路、薄膜反射多层膜平行光系统、高分辨平行光+Ge200单色Ka1系统，光束发散度优于 31”，三光路可自动切换。 |
四、应用案例
